1. Atom-Probe Field Ion Microscopy :
پدیدآورنده: Tien T. Tsong.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Atom-probe field ion microscopy.,Atom-probe field ion microscopy.
رده :
QH212
.
A76
T76
1990
2. Characterization of high Tc materials and devices by electron microscopy /
پدیدآورنده: edited by Nigel D. Browning, Stephen J. Pennycook.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Electron microscopy-- Technique.,High temperature superconductors.,Electron microscopy-- Technique.,High temperature superconductors.
رده :
QC611
.
98
.
H54
C43
2006
3. Superconducting quantum electronics.
پدیدآورنده:
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع:
رده :
QC611
.
97
.
T46
S874
2012
